mikroskopija s pretražnom probom

polje: fizika

grana: fizika kondenzirane tvari

potpodrucje: struktura, mehanička i toplinska svojstva

projekt: Izgradnja, odabir i usuglašavanje hrvatskoga nazivlja u fizici

mikroskopija s pomoću koje se dobiva slika površine uzorka pokretnom sondom koja rasterski pretražuje površinu

mikroskopija s pomoću koje se dobiva slika površine uzorka pokretnom sondom koja rasterski pretražuje površinu

Engleski:
scanning probe microscopy Kratice: SPM

Francuski:
microscopie en champ proche

Rod: nema

Vrsta riječi: višerječni naziv

Dopušteni nazivi:
mikroskopija sa skenirajućom probom mikroskopija s pretražnom sondom