mikroskopija fokusiranim ionskim snopom

polje: fizika

grana: fizika kondenzirane tvari

projekt: Izgradnja, odabir i usuglašavanje hrvatskoga nazivlja u fizici


Definicija

metoda pripreme tankih uzoraka za elektronsku mikroskopiju skidanjem površinskih slojeva bombardiranjem uzorka uskim snopom iona

Radna definicija

metoda pripreme tankih uzoraka za elektronsku mikroskopiju skidanjem površinskih slojeva bombardiranjem uzorka uskim snopom iona

Istovrijednice (prijevodi)
Engleski:
focused ion beam milling focused ion beam microscopy Kratice: FIBM
Gramatičke informacije

Rod: nema

Vrsta riječi: višerječni naziv

Informacije
  • Broj: nema
  • 1 komentara
  • 0 lajkova
  • Dodano: 03.10.2011
  • Ažurirano: 29.08.2015
Natrag na pretragu Početna stranica